目的兒童失神癲癇(Childhood absence epilepsy, CAE)是一種很常見的特發性癲癇，少有研究此類患者的大腦結構變化，尤其是默認模式網絡腦區的腦結構是否存在異常改變。彌散張量成像技術可以用來定量評估腦結構的改變。研究將利用該技術探討CAE患兒的腦結構改變。方法收集2014年10月-2016年4月于南京腦科醫院神經內科就診的14例CAE患兒和13名性別、年齡匹配的健康對照組彌散張量成像數據。基于體素對彌散張量數據進行分析處理，并對組間資料進行統計比較。提取組間比較存在顯著性差異腦區的彌散張量參數，將參數與患兒的臨床資料做相關性分析。結果患兒組的表觀彌散系數在左內側前額葉出現了顯著性增高(P=0.042)，而部分各向異性明顯降低的腦區主要位于左側楔前葉(P=0.010)。相關性分析結果顯示，左內側前額葉的表觀彌散系數與患兒的病程存在正相關(R=0.80，P=0.001)。但部分各向異性與病程和發病頻率無相關性。結論CAE患兒的默認模式網絡腦區存在結構異常，這將有助于進一步理解CAE患兒神經損傷的病理機制以及癲癇活動對他們的長期影響。